PREDMETI

Cilji

Cilji: - slušatelj pozna zmogljivosti in specifičnosti naprednih analiznih metod z visokoenergijskimi ionskimi žarki, - slušatelj razume strukturo rentgenskega emisijskega spektra PIXE, - slušatelj razume fizikalne procese in iz njih sklepa na obliko spektra povratno sipanih ionov, - slušatelj poišče optimalno energijo in vrsto žarka za rešitev izbranega analitskega problema. Kompetence: - slušatelj zna po opravljenem predmetu poiskati analizno metodo s hitrimi ioni za rešitev raziskovalnega problema na njemu bližnjem raziskovalnem področju, - slušatelj obvlada osnovno orodje za analizo rentgenskega emisijskega spektra PIXE za določitev koncentracije elementov v sledeh v vzorcu, - slušatelj obvlada osnovno orodje za simulacijo in analizo spektra povratno sipanih ionov in je iz oblike spektra sposoben določiti stehiometrijo in elementni globinski koncentracijski profil tanke plasti.

Predmetnik

Interakcija hitrih ionov s snovjo: - Ustavljanje - Sipanje - Ionizacija - Vzbuditev jeder Spektroskopije s sipanjem hitrih ionov: - Spektroskopija z Rutherfordovim povratnim sipanjem (RBS) - Spektroskopija z elastičnim povratnim sipanjem ionov (EBS) - Spektroskopija elastično odrinjenih jeder (ERDA) Spektroskopije z vzbuditvijo fotonske emisije: - Spektroskopija ionsko vzbujenih rentgenskih žarkov (PIXE) - Spektroskopija ionsko vzbujenih žarkov gama (PIGE) Spektroskopije z vzbuditvijo jedrskih reakcij: - Spektroskopija z reakcijami (3He,p) - Detekcija vodika z ionskim žarkom 15N - Spektroskopija z reakcijami (p, α) Uporaba fokusiranih visokoenergijskih ionskih žarkov: - Oblikovanje visokoenergijskih fokusiranih žarkov - Sistemi zajema za oblikovanje elementnega zemljevida - Metoda presevne ionske mikroskopije (STIM) - Mikroobdelava s fokusiranim ionskim žarkom (PBW) Napredne metode IBA: - MeV SIMS - Tomografija PIXE/STIM - Konfokalna metoda PIXE - Obsevanje s posameznimi ioni - Analiza v zraku - Izvedba metod IBA s pozicijsko občutljivimi detektorji - Izvedba metod IBA z meritvijo časa preleta