PREDMETI

Cilji

Cilji predmeta so: - študent se seznani s koncepti in opremo za določanje lokalnih električnih, elektromehanskih in toplotnih lastnosti različnih senzorskih materialov, - študent spozna osnovne principe delovanja AFM, PFM, CAFM in SThM ter ostale sorodne tehnike, kot so AFM s Kelvinovo sondo (KPFM), mikroskopija električnih sil (EFM) in mikroskopija magnetnih sil (MFM), - študent izmeri in analizira lokalne lastnosti senzorskih materialov (kratek raziskovalni projekt). Kompetence študenta: - izbere primerno tehniko za določanje želenih lokalnih lastnosti, - zna pripraviti vzorce (npr. kristale, volumenske materiale, tanke in debele plasti, nanomateriale, itd.) za meritve lokalnih lastnosti, - določi in analizira želene lokalne lastnosti senzorskega materiala, kot so na primer lokalna električna prevodnost, lokalen piezoelektrični odziv, feroelektrična domenska struktura, lokalna toplotna prevodnost, itd., - zna povezati lokalne in makroskopske lastnosti materialov.

Predmetnik

Aktualne tehnološke rešitve in metode za merjenje lokalnih električnih, elektromehanskih in termičnih lastnosti funkcijskih materialov. Osnovni principi delovanja mikroskopa na atomsko silo (AFM) s piezoelektričnim (PFM), prevodnim (CAFM) in temperaturnim (SThM) modulom ter ostale sorodne tehnike. Napredne merilne tehnike na osnovi AFM, kot na primer tehnika za določanje lokalnih elektrokaloričnih lastnosti na osnovi modificiranega SThM sistema. Povezave med lokalnimi in makroskopskimi lastnostmi funkcijskih materialov. Individualno poglobljena analiza izbranega realnega primera iz študentove disertacije: I) izbor primerne tehnike za določitev želenih lokalnih lastnosti (kot na primer lokalne električne prevodnosti, lokalnega piezoelektričnega odziva, feroelektrične domenske strukture, nukleacija in preklaplanje domen, lokalna toplotna prevodnost, itd.), II) eksperimentalno delo na mikroskopu ter analiza dobljenih rezultatov.