PREDMETI

Karakterizacija sestave in strukture

5

ECTS Kreditne točke

Predavatelji
  • prof. dr. Iztok Arčon
Smeri
  • NANO3

Cilji

Pri predmetu študenti spoznajo osnove sodobne rentgenske spektroskopske (XAS) in mikroskopske metode pri karakterizaciji atomske in elektronske strukture materialov s sinhrotronsko svetlobo. Splošne kompetence: - obvladanje raziskovalnih metod, postopkov in procesov, razvoj kritične in samokritične presoje, - sposobnost uporabe znanja v praksi, - razvoj komunikacijskih sposobnosti in spretnosti, posebej komunikacije v mednarodnem okolju, - kooperativnost, delo v skupini (in v mednarodnem okolju) Predmetnospecifične kompetence: Predmet pripravlja študente za uporabna znanja s področja sodobnih rentgenskih absorpcijskih spektroskopskih in mikroskopskih metod s sinhrotronsko svetlobo pri karakterizaciji atomske in elektronske strukture (nano)materialov. Študentje pridobijo osnovna znanja in veščine za načrtovanje in uporabo rentgenske abosorpcijske in fluorescenčne spektroskopije ((mikro) XANES, EXAFS, (mikro)XRF) s sinhrotronsko svetlobo za karakterizacijo materialov.

Predmetnik

Slušatelji se podrobneje seznanijo s posameznimi rentgenskimi absorpcijskimi spektroskopskimi metodami (npr. rentgenske absorpcijske in emisijske spektroskopije, EXAFS, (mikro)XANES, mikroXRF), ki se najpogosteje uporabljajo pri karakterizaciji sodobnih funkcionalnih materialov (v kristaliničnih, nanostrukturnih ali amorfnih oblikah in v obliki tekočih sol-gelov), kot so katalizatorji, Li-ionske baterije in podobni. Predstavljene so lastnosti najpomembnejših, predvsem sinhrotronskih virov svetlobe in žarkovnih linij, ki jih posamezne spektroskopske metode izkoriščajo. Poudarek je na uporabnosti posameznih spektroskopskih metod in njihovem medsebojnem dopolnjevanju ter uporabi v in-situ ali in-operando načinu. Študentje se na realnih primerih naučijo osnov analize strukturnih lastnosti materiala.

Obveznosti

Zaključena izobrazba druge stopnje ali univerzitetna izobrazba s področja naravoslovja ali tehnologije.

Preverjanje znanja

Literatura in reference

Več
Skrij