ECTS Kreditne točke
Predavatelji |
---|
|
Smeri |
|
Pri predmetu študenti spoznajo osnove sodobne rentgenske spektroskopske (XAS) in mikroskopske metode pri karakterizaciji atomske in elektronske strukture materialov s sinhrotronsko svetlobo. Splošne kompetence: - obvladanje raziskovalnih metod, postopkov in procesov, razvoj kritične in samokritične presoje, - sposobnost uporabe znanja v praksi, - razvoj komunikacijskih sposobnosti in spretnosti, posebej komunikacije v mednarodnem okolju, - kooperativnost, delo v skupini (in v mednarodnem okolju) Predmetnospecifične kompetence: Predmet pripravlja študente za uporabna znanja s področja sodobnih rentgenskih absorpcijskih spektroskopskih in mikroskopskih metod s sinhrotronsko svetlobo pri karakterizaciji atomske in elektronske strukture (nano)materialov. Študentje pridobijo osnovna znanja in veščine za načrtovanje in uporabo rentgenske abosorpcijske in fluorescenčne spektroskopije ((mikro) XANES, EXAFS, (mikro)XRF) s sinhrotronsko svetlobo za karakterizacijo materialov.
Obveznosti
Zaključena izobrazba druge stopnje ali univerzitetna izobrazba s področja naravoslovja ali tehnologije.Preverjanje znanja