ZAGOVOR DOKTORSKE DISERTACIJE JERNEJA EKARJA
Optimizacija ToF-SIMS profilne analize v nizkotlačni atmosferi H2, C2H2, CO in O2
Optimizacija ToF-SIMS profilne analize v nizkotlačni atmosferi H2, C2H2, CO in O2
MPŠ vabi na zagovor doktorske disertacije Jerneja Ekarja z naslovom: Optimizacija ToF-SIMS profilne analize v nizkotlačni atmosferi H2, C2H2, CO in O2. Zagovor bo v ponedeljek, 22. aprila 2024, ob 11:00 v predavalnici MPŠ, Jamova 39, Ljubljana. Zagovor lahko spremljate tudi na povezavi: https://us02web.zoom.us/j/81956454297?pwd=MlA0OUNyejJJNkFRbEphS3BrMndRdz09 (Meeting ID: 819 5645 4297, Passcode: 020274).
Kratek povzetek dela:
Masna spektrometrija sekundarnih ionov (SIMS) je analitska metoda za preiskave kemijske sestave površin. Z njo analiziramo samo zgornjih nekaj atomskih oz. molekulskih plasti, ob uporabi posebnih nastavitev pa lahko spremljamo tudi globinsko sestavo vzorca. V okviru doktorske naloge smo optimizirali tehniko SIMS, tako da smo v analitsko komoro, v kateri je običajno ultra visoki vakuum, vpuščali različne reaktivne pline. Najbolje se je odrezal H2, ki je izboljšal kvantitativnosti metode in optimiziral možnosti spremljanja globinske sestave.
Nazaj na novice